聯(lián)系電話:
400 8353 166-2
電化學顯微鏡為表面科學測量提供了一個新的途徑,開爾文探針是一種無接觸,無破壞性的儀器,可以用于測量導電的、半導電的,或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。 這種技術(shù)是用一個振動電容探針來工作的,通過調(diào)節(jié)一個外加的前級電壓可以測量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。 功函和表面狀況有直接關(guān)系的理論的完善使SKP成為一種很有價值的儀器,它能在潮濕甚至氣態(tài)環(huán)境中進行測量的能力使原先不可能的研究變?yōu)楝F(xiàn)實。
電化學顯微鏡主要特點:
SECM是一個精密的掃描微電極系統(tǒng),具有*空間分辨率。它在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。SECM與EC-STM、EC-AFM具有互補性,EC-STM和EC-AFM是對溶液中樣品表面進行原子級和納米級成像分析,EC-STM和EC-AFM更多地展現(xiàn)了電化學過程的表面物理圖像。而SECM則用于檢測、分析或改變樣品在溶液中的表面和界面化學性質(zhì)。SECM具有高分辨率、易操作、測試樣品更接近實際應用情況等特點,適用于分析研究各種實時和原位的電化學反應過程。EC-STM和EC-AFM強調(diào)的是結(jié)果,而SECM注重的是過程和結(jié)果。
電化學顯微鏡的應用:
SECM有很多潛在的應用,目前主要用于電沉積和腐蝕科學中的表面反應過程基礎研究、酶穩(wěn)定性研究、生物大分子的電化學反應特性以及微機電系統(tǒng)(MEMS)等領(lǐng)域。
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml